精密光学测控——西普达科技

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LN系列微细线粒子缺陷检测系统

适用于微细圆线、微扁线表面的：粒子、肿块、颈缩、泡块、粗节、夹杂物、划痕、涂层脱落、挫伤的非接触检测。

技术原理是采用高准直性平行光幕测量：红色LED发出光源，通过光学透镜转换为平行光并通过测试区。当被测物进入测试区时，会遮挡部分平行光，并通过聚焦镜在光电接收元件上转换成电平信号。通过分析感光元件电流差异，判断被测物上是否存在凹凸点。

LN-2000表面凹凸粒子测控系统

对微细圆线进行超快速非接触式表面粒子缺陷检测。单控制箱支持16台检测头。

LN-3000表面凹凸粒子测控系统

双轴光路检测，盲区更小，超高采样频率、不间断实时检测。一台控制箱可搭配16个检测头。

LN-3000表面凹凸粒子测控系统

双轴光路检测，盲区更小，超高采样频率、不间断实时检测。一台控制箱可搭配16个检测头。

应用场景

对微细圆线、微扁线进行超快速非接触式粒子缺陷检测，即使在高速的生产线速度下，也能实时精确测量和检测目标表面微米级粒子缺陷。

搭配智能化软件系统

	参数设置选项设置被测物规格参数。
	检测数值显示显示凹凸缺陷的数量和位置。
	信息统计可统计显示整体的检测结果。
	操作查询查询操作员操作记录。
	历史数据查询导出按日期查询生产数据，并生成检测数据图表，使数据更直观易读。

详细参数

成都西普达科技有限公司

Shape diameter science and technology Co.ltd

	参数设置选项设置被测物规格参数。
	检测数值显示显示凹凸缺陷的数量和位置。
	信息统计可统计显示整体的检测结果。
	操作查询查询操作员操作记录。
	历史数据查询导出按日期查询生产数据，并生成检测数据图表，使数据更直观易读。